실리콘포토닉스_측정 MPI 솔루션 제공

유·무선 통신의 모든 단계에서 대역폭 증가에 대한 요구와 데이터 센터 속도의 지속적인 향상은 통신 산업을 기존의 구리 인터커넥트에서 실리콘 포토닉스 기술로 이동시키고 있습니다.

이러한 진화하는 기술은 Fiber Optics, Optical Waveguides, Integrated Optics, Optical Amplifiers,
Laser Frequency Light Waves, 그리고 Photo Detectors 등을 결합하여 기존의 구리 도체보다 훨씬 더 많은 데이터를 전송할 수 있으며, 데이터 통신 센터 간 고속 데이터 전송을 지원합니다.

이와 함께, 다양한 on-wafer 측정이 요구되는 새로운 공정과 기술들이 등장하고 있습니다.
여기에는 다음과 같은 순수 Parametric 광 및 전기·광 혼합 측정이 포함됩니다.

Insertion Loss, IL, Polarization Dependent Loss, PDL,
Optical/Electrical S-Parameters, E-E, E-O, O-E, O-O 변환 측정,
Optical Eye,Jitter,Transmitter and Dispersion Eye Closure, BER

이러한 측정 기술들은 차세대 SiPH 기반 고속 통신 시스템의 성능 검증과 최적화를 위해 필수적인 요소입니다.


로이엔텍은 MPI prober 시스템을 통해
Silicon Photonics Wafer test 에대한 고정밀 Application 과 Solution을 제공합니다.

문의는 dkim@roientec.co.kr 로 부탁드립니다.