SAW 필터 신뢰성 시험 시스템

엘텍알에프는 RF회로 전용 SAW Filter 전문 생산 와이솔과 SAW 필터 신뢰성 시험 시스템을 계약 공급 합니다.
HTOL 테스트 (고온 작동 수명)는 표면 탄성파 필터 (SAW, BAW, FBAR, XBAR), 저온 동시 소성 세라믹 필터 (LTCC)와 같은 마이크로 전자 부품의 신뢰성 시험의 중요한 요소입니다.
다른 대상 DUT (테스트 대상 장치)는 다이 플 렉서, 쿼드 플 렉서 및 전체 프런트 엔드 구성 요소 (RFFE)입니다. 이러한 테스트는 대량의 DUT 배치에 절대 최대 정격 및 추가적으로 일반적으로 125 ° C의 고온에서 RF 스트레스를받습니다.
RF 스트레스 신호는 신뢰할 수있는 통계를 생성하기 위해 매우 정확하고 장기적으로 안정적이어야합니다 (1000 시간 이상).
이 기능에 적합 한 시스템으로는 삼성전기에 납품한 80채널 시스템과 동일한 8채널 PME 시스템과 와이솔의 요구에의한 고객 요구 테스트 진행 소프트웨어가 개발 되어 공급 예정 입니다.

채널당 최대 10와트와 300MHz에서 최대 6000MHz의 대역폭을 제공하는 80개의 DUT(테스트 대상 장치)를 위한 소형 완전 자동 HTOL RF 테스트 시스템. 주파수 범위는 최신 5G 구성 요소를 포함한 모든 셀룰러, C2X 및 연결 시스템을 포함합니다. 시스템은 각 출력에서 자동 레벨 제어(ALC) 루프와 함께 보관되는 높은 수준의 정확도를 제공합니다. 이 시스템에는 옵션인 펄스 변조기와 직관적인 처리를 위한 그래픽 사용자 인터페이스(GUI)가 있는 내부 CW 신호 소스가 있습니다.
구성 요소의 수명. HTOL 테스트 중에 스트레스로 인해 죽는 테스트중인 디바이스는 동일한 테스트 설정에서 인접 디바이스에 영향을 미치지 않아야 합니다.
제품의 링크는 아래와 같습니다.
  https://www.becker-rf.com/files_db/1646824410_6554__17.pdf
또한 제품 문의는 lee(at)ltechrf.com 으로 메일 주시면 답변 하여 드리도록 하겠습니다.