제가 이번에 실수로 RF칩을 설계할때 ESD 보호 회로를 넣지 않고 설계를 했고, 측정까지 진행하게 되었습니다.
첫번째 측정시보다 두번째 측정시에 전류 소모가 늘어나다가 계속 측정을 진행하면 칩이 고장나서 더이상 동작하지 않았습니다. ESD 보호 회로 때문인것으로 생각됩니다.
제가 드리고 싶은 질문은, 칩이 동작을 했는데도 측정 횟수가 늘어날수록 전류소모가 증가한 원인에 대해 분석이 어려워서 질문 드립니다. 측정할때마다 과도한 전압이 흘러들어가서 칩이 점차 고장이 나게 된것인가요?
