ESD 회로가 없다고 해서 꼭 전류소모가 증가하면서 칩이 죽는 것은 아닙니다.
다른 부분에서 leakage가 있을 수도 있습니다.
ESD가 없어서 입출력 단 연결시 charging 문제가 발생한다면 transistor의 gate 가 깨지면서 전류 증가 가능성이 있습니다. 측정이 계속 될 수록 증가하다 결국 동작을 못하는 현상도 발생할 수 있습니다. 측정을 주의깊게 하신다면 ESD 문제 없이 측정하실 수 있을 것입니다.
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> 제가 이번에 실수로 RF칩을 설계할때 ESD 보호 회로를 넣지 않고 설계를 했고, 측정까지 진행하게 되었습니다.
> 첫번째 측정시보다 두번째 측정시에 전류 소모가 늘어나다가 계속 측정을 진행하면 칩이 고장나서 더이상 동작하지 않았습니다. ESD 보호 회로 때문인것으로 생각됩니다.
> 제가 드리고 싶은 질문은, 칩이 동작을 했는데도 측정 횟수가 늘어날수록 전류소모가 증가한 원인에 대해 분석이 어려워서 질문 드립니다. 측정할때마다 과도한 전압이 흘러들어가서 칩이 점차 고장이 나게 된것인가요?
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