Nonlinear Device Modeling

ºñ¼±Çü¼ÒÀÚÀÇ Æ¯¼º

ºñ¼±Çü¼ÒÀÚ´Â ½Ã°£¿µ¿ª¿¡¼­ ¹°¸®ÀûÀÎ Àǹ̸¦ °®´Â ¼ÒÀÚÀ̸ç, I-V ÀÔÃâ·Â°£ÀÇ ºñ¼±Çü¼ºÀ¸·Î ÀÎÇØ ÁÖÆļö ¿µ¿ª¿¡¼­´Â °íÁ¶ÆÄ(harmonics)°¡ »ý¼ºµÈ´Ù. Áï ¿ø·¡ÀÇ ÁÖÆļöÀÇ ¹è¼ö¼ººÐ°ú °ü·ÃµÇ¾î ¿ø·¡ ½ÅÈ£¿¡³ÊÁö ÀÌ¿ÜÀÇ ´ë¿ª¿¡¼­ ÁÖ±âÀûÀÎ °íÁ¶ÆÄ ¼ººÐÀÌ ³ªÅ¸³ª±â ¶§¹®¿¡ °á°úÀûÀ¸·Î ÁÖÆļö¿µ¿ª¿¡¼­ dispersionÀ» ÀÏÀ¸Å²´Ù.

 

ºñ¼±Çü Deivce model

Harmonic balance¿¡ ±âÃÊÇÑ ºñ¼±Çü ½Ã¹Ä·¹À̼ÇÀ» À§Çؼ­´Â ´Ü¼øÈ÷ S ÆĶó¹ÌÅ͸¦ ¹è¿­ÇÑ ¼±Çü device parameter°¡ ¾Æ´Ï¶ó, ¹ÝµµÃ¼ ±¸Á¶ÀÚü¿¡ ±Ù°ÅÇÑ ÇüÅÂÀÇ ºñ¼±Çü device parameter°¡ ÇÊ¿äÇÏ´Ù. ´Ü¼øÇÏ°Ô ¼³¸íÇÑ´Ù¸é ºñ¼±Çü °î¼±Æ¯¼ºÀ» ³ÐÀº ¹üÀ§¿¡¼­ (=´ë½ÅÈ£ ¸ðµ¨¸µ) ¼ÒÈ­ÇÒ ¼ö ÀÖµµ·Ï ¼öÄ¡Çؼ®ÀûÀÎ ÇÔ¼öÇüÅÂÀÇ fittingÀÌ ÇÊ¿äÇÑ °³³äÀÌ´Ù.

ÀÌ·¯ÇÑ ºñ¼±Çü ¸ðµ¨Àº ÁÖÆļö¹üÀ§³ª ¿ëµµ¿¡ µû¶ó »ó´çÈ÷ ´Ù¾çÇÑ Á¾·ù°¡ Á¸ÀçÇϸç, »ç¿ëÀÚ´Â ÀÚ½ÅÀÇ ¸ñÀû¿¡ °¡Àå ºÎÇյǴ ºñ¼±Çü ¸ðµ¨À» ¸ÕÀú ¼±ÅÃÇÑ ÈÄ, »ç¿ëÇÏ°íÀÚ ÇÏ´Â ¼ÒÀÚÀÇ ÇØ´ç ¸ðµ¨¿¡ ´ëÇÑ device parameter ÆÄÀÏÀ» ±¸ÇÏ´øÁö ÃøÁ¤Çؼ­ ¾ò¾î³»¾ß ÇÑ´Ù. ƯÈ÷ ºñ¼±Çü ¸ðµ¨ Ư¼º»ó Á¦Á¶»çÃø¿¡¼­ ¸ðµç ¸ðµ¨¿¡ ´ëÇÑ ÆĶó¹ÌÅÍ ÆÄÀÏÀ» Á¦°øÇØÁÖÁö ¸øÇϱ⠶§¹®¿¡ S/WÀÇ ¶óÀ̺귯¸®¿¡ ÀÇÁ¸ÇÏ´Â °æÇâÀÌ °­ÇØÁø´Ù.  ADS³ª SerenadeµîÀÇ ºñ¼±Çü ½Ã¹Ä·¹ÀÌÅ͵é ÀÚü¿¡µµ ¸¹Àº ¾çÀÇ ¸ðµ¨ ¶óÀ̺귯¸®°¡ ³»ÀåµÇ¾î ÀÖÁö¸¸, ¿ª½Ã ¸ðµç Á¾·ùÀÇ ¸ðµ¨ ÆĶó¹ÌÅ͸¦ Á¦°øÇÒ ¼ö ¾ø±â ¶§¹®¿¡, º°µµÀÇ toolÀ» »ç¿ëÇÏ¿© ÃßÃâÇس»´Â ¹æ¹ýÀ» ¸¹ÀÌ ±ÇÀåÇÏ°í ÀÖ´Ù. ¾Æ·¡¿¡´Â ¸î°¡Áö ´ëÇ¥ÀûÀÎ ºñ¼±Çü ä³ÎÀü·ù ¸ðµ¨µéÀÌ´Ù.

- MESFET / HEMT : Chalmers(angelov), Pedro, Curtice-Ettenberg cubic, Curtice quadratic,  IAF(Berroth), Materka-Kacprzak, Raytheon-Statz, Triquint(TOM-1 & TOM-2), Modified Curtice-cubic

- MOSFET : BSIM 3

- JFET : general-purpose N / P channel junction

- BJT   : NPN / PNP Gummel-Poon

- HBT  : NPN / PNP hetero-junction (Anholt)

 

ºñ¼±Çü Device model parameterÀÇ ±¸Á¶

´Ü¼øÈ÷ S ÆĶó¹ÌÅÍÀÇ ³ª¿­¸¸ Á¸ÀçÇÏ´Â ¼±Çü ÆĶó¹ÌÅÍ¿Í´Â ´Þ¸®, ºñ¼±Çü ÆĶó¹ÌÅʹ ƯÁ¤ ¸ðµ¨½Ä¿¡ ±Ù°ÅÇÑ ÀÔ·Â ÆĶó¹ÌÅÍ°ªÀ» ±â·ÏÇÑ ÆÄÀÏÀÌ´Ù. ¾Æ·¡¿¡ ¿¹¸¦ µé¾î ´ëÇ¥ÀûÀÎ MESFETÀÇ ºñ¼±Çü ä³ÎÀü·ù ¸ðµ¨ÀÎ Materka modelÀÇ ½ÄÀ» ³ªÅ³»¾ú´Ù.

ÀÌ ½Ä¿¡¼­ ¾Ë ¼ö ÀÖµíÀÌ ÀÌ ¸ðµ¨À» ±¸ÇöÇϱâ À§ÇÑ °¢Á¾ º¯¼ö°ªÀ»À» ÃßÃâÇÏ°í ÃÖÀûÈ­ ÇÏ´Â °ÍÀÌ device modelingÀÇ °ü°ÇÀÌ´Ù. ÀÌ·¯ÇÑ º¯¼ö°ªµéÀ» ±â·ÏÇÑ ºñ¼±Çü device model parameter ÆÄÀÏÀº ´ëºÎºÐ binary ÆÄÀÏ·Î codingµÇ¾î ÇԺηΠ¼öÁ¤À̳ª È®ÀÎÀÌ ¾ÈµÇ°Ô µÇ¾î ÀÖ´Â °æ¿ì°¡ ¸¹´Ù.

 

ºñ¼±Çü ä³ÎÀü·ù ¸ðµ¨ÀÇ ºñ±³ (MESFET)

¾Æ·¡¿¡ ´ëÇ¥ÀûÀÎ MESFETÀÇ ºñ¼±Çü ä³ÎÀü·ù ¸ðµ¨µéÀÇ Æ¯Â¡À» Á¤¸®ÇØ º¸¾Ò´Ù.

Model ¸í

º¯¼ö°¹¼ö

Ư¡

Materka-Kacprzak

4

ÀÚ½ÂÇÔ¼öÇü, ¼ÒÇÁÆ® ÇÉÄ¡¿ÀÇÁ Ç¥ÇöÇü

Àü´ÞÄÁ´öÅϽº/¿Ö°î¿¹Ãø/ I-V Ç¥Çö ¹ÌÈí

Perdo

5

I-VƯ¼º ¿ì¼ö, ºÒ¿¬¼ÓÁ¡ ¾øÀ½, ¼ö·Å ÀßµÊ.

µ¿ÀÛ Bias¿Í ¿ÂµµÈ¿°ú Ç¥Çö ºÒ°¡

Raytheon-Statz

7

´ëÀü·ù/ÇÉÄ¡¿ÀÇÁ ¿µ¿ª ºÎÁ¤È®

Curtice-Ettenberg

8

Vgs 3´ÙÇ×½Ä/ ¼ÒÇÁÆ® ÇÉÄ¡¿ÀÇÁ Ç¥ÇöÇü

ÇÉÄ¡¿ÀÇÁÀü¾ÐÀÌÇϺÎÁ¤È®,

Modified Curtice-Cubic

13

I-VƯ¼º ¿ì¼ö, ºÒ¿¬¼ÓÁ¡ ¾øÀ½, º¯¼ö ¸¹À½

À§ÀÇ Ç¥¿¡¼­ ¾Ë ¼ö ÀÖµíÀÌ, °¢°¢ÀÇ ºñ¼±Çü ¸ðµ¨Àº °íÀ¯ÀÇ Æ¯Â¡ÀÌ Àֱ⠶§¹®¿¡, »óȲ¿¡ ¸Â°Ô ¾î¶² ¸ðµ¨À» ½á¾ß ÇÒ °ÍÀΰ¡¿¡ ´ëÇÑ ¸íÈ®ÇÑ Á¤ÀÇ°¡ ¼±ÇàµÇ¾î¾ß ÇÑ´Ù.

 

ºñ¼±Çü Device model extraction

ºñ¼±Çü ¸ðµ¨À» ÃßÃâÇس»´Â °ÍÀº »ó´çÈ÷ ±î´Ù·Î¿î ÀÛ¾÷ÀÌ´Ù. ÃøÁ¤¹æ¹ý¿¡ µû¶ó¼­, ±×¸®°í ÃøÁ¤ÀÚÀÇ ¼÷·Ãµµ¿¡µµ ÀÇÁ¸µµ°¡ ³ô°í ¹æ¹ý ¶ÇÇÑ ¿©·¯ °¡ÁöÀ̱⠶§¹®ÀÌ´Ù.

ÀϹÝÀûÀ¸·Î´Â network analyzer¸¦ ÀÌ¿ëÇÏ¿© I-V Ä¿ºê ȤÀº C-V Ä¿ºê µîÀ» ÃøÁ¤ÇÑ ÈÄ, S/WÀûÀ¸·Î ±× °ªÀ» º¯È¯ÇÏ¿© ºñ¼±Çü ¸ðµ¨ ÆĶó¹ÌÅÍ ÆÄÀÏÀ» ¾ò´Â´Ù. Áï ¼±Çü ÆĶó¹ÌÅÍ ÃßÃâó·³ ´Ü¼øÇÑ ÃøÁ¤¸¸À¸·Î´Â ÃßÃâÀÌ ºÒ°¡´ÉÇÏ°í, Á÷Á¢ Á¦ÀÛÇÑ code ȤÀº »ó¿ëÈ­µÈ modeling toolÀ» ÀÌ¿ëÇÏ¿© ÃøÁ¤Ä¡ÀÇ Á¤±³ÇÑ º¯È¯ÀÌ ¿ä±¸µÈ´Ù.

HP¿¡¼­ Á¦°øÇÏ´Â IC-CAPÀÇ °æ¿ì¿¡´Â ÀÚ»çÀÇ 85°è¿­  network analyzer¿Í ¹Ù·Î ¿¬µ¿ÇÏ¿© ADS¸¦ À§ÇÑ model parameter¸¦ ÃßÃâÇÏ´Â ½Ã½ºÅÛÀÌ Àß °®Ãß¾îÁ® ÀÖÁö¸¸, °¡°ÝÀÌ ¸Å¿ì ºñ½Ñ °ÍÀÌ ÈìÀÌ´Ù. Ansoft SerenadeÀÇ °æ¿ì¿¡´Â Ansoft scout¶ó´Â ¿ÜºÎ modeling toolÀ» ÀÌ¿ëÇÏ¿© I-V Ä¿ºê ÃøÁ¤À» ÅëÇØ ¿øÇÏ´Â ºñ¼±Çü ä³ÎÀü·ù ¸ðµ¨ÀÇ ÆĶó¹ÌÅÍ·Î ÃÖÀûÈ­°¡ °¡´ÉÇÏ´Ù.

  << Back

Copyright by RF designhouse. All rights reserved.